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申请/专利权人：北京智芯微电子科技有限公司
申请日：2024-01-04
公开（公告）日：2024-05-03
公开（公告）号：CN117970075A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;H03L7/08
优先权：["20230830 CN 2023111084334"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开
摘要：本发明涉及芯片领域，公开一种稳定性确定系统、失效芯片的确定系统及其方法，所述稳定性确定系统包括：控制装置，用于根据预设时序，向多个芯片中的一个芯片发送频率输出指令以及发送频率测试指令；及频率测量装置，用于根据频率测试指令中的所述一个芯片的标识，对所述一个芯片中的锁相环响应于频率输出指令而多次输出的频率进行测量，以获取多个输出频率，所述控制装置还用于执行：根据所述多个输出频率，确定所述一个芯片中的锁相环的稳定性参数；及根据所述稳定性参数，确定所述一个芯片的锁相环的级别。本发明可有效地确定芯片的锁相环的级别，并基于芯片的锁相环的级别准确地识别失效芯片，从而在通信模块焊接生产之前可及时剔除失效芯片。
主权项：1.一种稳定性确定系统，其特征在于，所述稳定性确定系统包括：控制装置，用于根据预设时序，向多个芯片中的一个芯片发送频率输出指令以及发送频率测试指令；以及频率测量装置，用于根据所述频率测试指令中的所述一个芯片的标识，对所述一个芯片中的锁相环响应于所述频率输出指令而多次输出的频率进行测量，以获取多个输出频率，所述控制装置还用于执行以下操作：根据所述多个输出频率，确定所述一个芯片中的锁相环的稳定性参数；以及根据所述稳定性参数，确定所述一个芯片的锁相环的级别。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京智芯微电子科技有限公司 稳定性确定系统、失效芯片的确定系统及其方法
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