申请/专利权人:友达光电(昆山)有限公司;友达光电(厦门)有限公司;友达光电股份有限公司
申请日:2023-12-29
公开(公告)日:2024-05-03
公开(公告)号:CN117970074A
主分类号:G01R31/28
分类号:G01R31/28
优先权:
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开
摘要:本发明公开一种测试系统及其操作方法,用于对待测电路板进行测试,待测电路板上具有相互电性连接的待测驱动芯片及第一接口,测试系统包含测试板、通信传输线及电源线,测试板具有相互电性连接的微处理单元及第二接口,微处理单元经由通信传输线传送身份访问命令至待测驱动芯片,若于第一预设时间内,微处理单元接收到待测驱动芯片的第一反馈信号,则微处理单元传送运算逻辑命令至待测驱动芯片,若于第二预设时间内,微处理单元接收到待测驱动芯片的第二反馈信号,则微处理单元将第二反馈信号与预设比对值进行比对,以判定待测驱动芯片是否正常。本发明降低了测试复杂度及成本。
主权项:1.一种测试系统,用于对一待测电路板进行测试,其特征在于,该待测电路板上具有相互电性连接的待测驱动芯片及第一接口,该测试系统包含,测试板,具有相互电性连接的微处理单元及第二接口,该微处理单元预先储存有预设比对值;通信传输线,用于电性连接该第一接口及该第二接口;以及电源线,用于电性连接该测试板及该待测电路板,以使该测试板经由该电源线为该待测电路板供电;其中,该微处理单元经由该通信传输线传送身份访问命令至该待测驱动芯片,若于第一预设时间内,该微处理单元接收到该待测驱动芯片的第一反馈信号,则该微处理单元传送通讯运算命令至该待测驱动芯片,若于第二预设时间内,该微处理单元接收到该待测驱动芯片的第二反馈信号,则该微处理单元将该第二反馈信号与该预设比对值进行比对,以判定该待测驱动芯片是否正常。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 友达光电(昆山)有限公司;友达光电(厦门)有限公司;友达光电股份有限公司 测试系统及其操作方法
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