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【发明公布】基于波动光学的全息计算方法、装置、电子设备及介质_清华大学_202311830258.X 

申请/专利权人:清华大学

申请日:2023-12-27

公开(公告)日:2024-05-03

公开(公告)号:CN117970762A

主分类号:G03H1/08

分类号:G03H1/08;G06T17/00;G06N3/0464;G06N3/08

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开

摘要:本申请涉及计算成像技术领域,特别涉及一种基于波动光学的全息计算方法、装置、电子设备及介质,其中,方法包括:采集场景在多个观测位置下的RGB真值图和对应的观测位姿信息;构造参考观测位置下的第一特征图体空间及对应的第一可学习特征值;选择训练观测位置,计算观测位置之间的旋转矩阵并计算第二特征图体空间,以得到对应的第二可学习特征值;构建多层卷积神经网络,输出训练观测位置下的全息图,并计算训练观测位置下的重建图像,以计算损失函数,直至完成训练得到最终卷积神经网络,以计算任意观测位置下的全息图。由此,解决了相关技术中,由于受到视点数目和计算资源的限制,影响全息图计算的实时性,且降低了处理复杂场景的能力等问题。

主权项:1.一种基于波动光学的全息计算方法,其特征在于,包括以下步骤:采集场景在多个观测位置下的RGB真值图和对应的观测位姿信息;从所述多个观测位置中选择参考观测位置,根据所述参考观测位置及对应的第一观测位姿信息构造所述参考观测位置下的第一特征图体空间及对应的第一可学习特征值;在除所述参考观测位置之外剩余的多个观测位置中选择训练观测位置,根据所述训练观测位置对应的第二观测位姿信息和所述第一观测位姿信息计算观测位置之间的旋转矩阵,并根据所述第一特征图体空间和所述旋转矩阵计算所述训练观测位置的第二特征图体空间,以得到所述第二特征图体空间对应的第二可学习特征值;基于所述第二可学习特征值构建多层卷积神经网络,输出训练观测位置下的全息图,并根据所述全息图计算所述训练观测位置下的重建图像,以根据所述重建图像和所述训练观测位置下的RGB真值图计算损失函数,直至所有观测位置完成训练,得到最终卷积神经网络,以计算任意观测位置下的全息图。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 清华大学 基于波动光学的全息计算方法、装置、电子设备及介质

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