申请/专利权人：南京模砾半导体有限责任公司

申请日：2023-02-07

公开（公告）日：2024-05-03

公开（公告）号：CN116206659B

主分类号：G11C17/10

分类号：G11C17/10;G11C17/14

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.05.03#授权;2023.06.20#实质审查的生效;2023.06.02#公开

摘要：本发明公开了一种OTP存储器，属于异常通讯检测技术领域，针对了对于芯片生产时增加了FT的测试时间导致生产成本的提高的问题，包括存储单元，用于存储需要写入的所有数据，存储单元的一端连接有写入单元，用于将需要写入的数据写入到存储单元中；本发明通过本算法提供了一种OTP存储器，在进行芯片生产trim或者参数配置时使用该算法，不需要写全部的寄存器到OTP中，而只需要写需要更新的寄存器值，即可完成芯片的trim或者参数配置，如此则大大的减少了测试时间，从而节省了成本，同时采用本读写算法，可以采样多块OTP代替MTP，从而节省了芯片die的面积，减少了芯片die的成本。

主权项：1.一种OTP存储器，包括存储单元，用于存储需要写入的所有数据；写入单元，与所述存储单元的一端连接，用于将需要写入的数据写入到存储单元中；读取单元，与所述写入单元的一端连接，用于读取存储在相变存储单元中的数据；读写比较单元，与所述写入单元的另一端连接，用于提供读取单元读取数据时的比较对象；多个存储元件，配置为存储数据，其中每个存储元件在达到写入故障状态之前可编程多个写入周期；控制器，耦合到多个存储元件，其中所述控制器包括：接收机，配置为接收用于将所选的存储元件驱动到写入故障状态的指令；写入引擎，在多个写入操作中将数据值重复地写入所选的存储元件，直到建立所选的存储元件的写入故障状态为止；读写校验单元，与所述读写比较单元的一端连接；OTP存储器上电时每位默认全部为1；每位可以保留为“1”或写为“0”，但不能从“0”写回“1”；芯片设计的寄存器默认值为A，需要更新的数值为B，则：写寄存器时，步骤如下：第一步：默认值和更新值取异或，C=默认值Axor更新值B；第二步：第一步得到的值取反，D=notC；当A=B时，通过上面的步骤可以得到D=0xFFFF，由于OTP存储器的默认值都是0xFFFF，所以不需要进行写操作；当A≠B时，把计算得到的D值写入对应地址的OTP存储器中；读寄存器时，步骤如下：第一步：读取对应地址的OTP存储器值，得到E；第二步：第一步的值取反，F=notE；第三步：把默认值A和F值取异或，G=默认值AxorF；此时G值即是希望配置的值，也即G=更新值B；当从OTP读出来的值是0xFFFF时，F=notE=0x0000；默认值A和F取异或,得到值G，当OTP存储器中为默认”1”，也即为0xFFFF时，表示该寄存器的值不需要变化；通过上面的步骤可以得到更新值或者保留默认值；OTP存储器包括以下三个OTP模块：OTP1地址寄存器表CRC标识位:001OTP2地址寄存器表CRC标识位:010OTP3地址寄存器表CRC标识位:100采样三个OTP模块代替同等容量大小的EEPROM；OTP模块内含有三部分：寄存器表+校验位+标识位；其中标识位表示的是采样至少一个OTP模块。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南京模砾半导体有限责任公司 一种OTP存储器

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