申请/专利权人:东莞市泰创电子科技有限公司
申请日:2023-10-16
公开(公告)日:2024-05-03
公开(公告)号:CN220893764U
主分类号:G01M13/00
分类号:G01M13/00
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.05.03#授权
摘要:本实用新型涉及测试设备领域,特别是涉及一种智能开关测试设备,包括外机壳、设置于所述外机壳内部的测试单元;所述测试单元包括支撑架、设于所述支撑架上方的横向移动组件、分别连接于所述横向移动组件的竖向移动组件和升降移动组件、设于升降移动组件下方的开关测试底模、用于模拟按压开关的按压组件;所述按压组件设置于所述开关测试底模的上方;所述开关测试底模包括放置座,所述放置座用于放置待测试的智能开关。本实用新型的目的在于,提供一种省时省力、成本低的智能开关测试设备。
主权项:1.一种智能开关测试设备,其特征在于,包括外机壳、设置于所述外机壳内部的测试单元;所述测试单元包括支撑架、设于所述支撑架上方的横向移动组件、分别连接于所述横向移动组件的竖向移动组件和升降移动组件、设于升降移动组件下方的开关测试底模、用于模拟按压开关的按压组件;所述按压组件设置于所述开关测试底模的上方;所述开关测试底模包括放置座,所述放置座用于放置待测试的智能开关。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 东莞市泰创电子科技有限公司 智能开关测试设备
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