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申请/专利权人：国立大学法人长崎大学;东芝三菱电机产业系统株式会社
申请日：2023-10-31
公开（公告）日：2024-05-07
公开（公告）号：CN117990326A
主分类号：G01M7/06
分类号：G01M7/06;G01M7/02
优先权：["20221104 JP 2022-177724","20230407 JP 2023-063004"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.24#实质审查的生效;2024.05.07#公开
摘要：一种实施方式的振动分析装置包括：第一励振装置，在振动分析对象的圆周方向上的第一励振位置处，施加规定振动频率且第一相位的励振，其中振动分析对象是在垂直于中心轴的平面上的正交投影的外缘的形状为圆形的例如圆板、圆环或圆柱体；第二励振装置，在振动分析对象的圆周方向上的第二励振位置处，施加规定振动频率且相对于第一相位具有规定相位差的第二相位的励振，其中规定相位差对应于第一励振位置和第二励振位置之间在圆周方向上的间隔；以及振动分析部，检测振动分析对象在第一励振装置和第二励振装置的励振下的振动，并执行振动分析对象的振动分析。
主权项：1.一种振动分析装置，包括：第一励振装置，在振动分析对象的圆周方向上的第一励振位置处，施加规定振动频率且第一相位的励振，所述振动分析对象是在垂直于中心轴的平面上的正交投影的外缘的形状为圆形的例如圆板、圆环或圆柱体；第二励振装置，在所述振动分析对象的所述圆周方向上的第二励振位置处，施加规定振动频率且相对于所述第一相位具有规定相位差的第二相位的励振，其中所述规定相位差对应于所述第一励振位置和所述第二励振位置之间在所述圆周方向上的间隔；以及振动分析部，检测所述振动分析对象在所述第一励振装置和所述第二励振装置的励振下的振动，并执行所述振动分析对象的振动分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 国立大学法人长崎大学;东芝三菱电机产业系统株式会社 振动分析装置、振动分析系统和振动分析方法
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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