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申请/专利权人：珠海微度芯创科技有限责任公司
申请日：2024-01-18
公开（公告）日：2024-05-07
公开（公告）号：CN117991074A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.24#实质审查的生效;2024.05.07#公开
摘要：本申请公开了一种芯片接口测试方法、控制方法以及芯片接口测试系统，方法应用于芯片接口测试电路，测试电路包括FPGA逻辑测试模块、时钟PLL模块和电源模块，FPGA逻辑测试模块的高速SERDES接口与待测芯片连接，方法包括：控制电源模块对FPGA逻辑测试模块和待测芯片进行上电初始化；控制FPGA逻辑测试模块加载FPGA程序；控制时钟PLL模块对FPGA逻辑测试模块和待测芯片进行时钟初始化；控制FPGA逻辑测试模块根据FPGA程序对待测芯片进行常规功能测试，以及通过自动触发的方式对待测芯片进行ADC和BP功能测试；控制FPGA逻辑测试模块对得到的测试数据结果进行上传处理；其中，本申请可以利用FPGA的高速SERDES接口以及灵活的测试逻辑进行待测芯片的高速204B数据测试。
主权项：1.一种芯片接口测试方法，其特征在于，所述方法应用于芯片接口测试电路，所述测试电路包括FPGA逻辑测试模块、时钟PLL模块和电源模块，所述FPGA逻辑测试模块的高速SERDES接口与待测芯片连接，所述方法包括：控制所述电源模块对所述FPGA逻辑测试模块和所述待测芯片进行上电初始化；控制所述FPGA逻辑测试模块加载FPGA程序；控制所述时钟PLL模块对所述FPGA逻辑测试模块和所述待测芯片进行时钟初始化；控制所述FPGA逻辑测试模块根据所述FPGA程序对所述待测芯片进行常规功能测试，以及通过自动触发的方式对所述待测芯片进行ADC和BP功能测试；控制所述FPGA逻辑测试模块对得到的测试数据结果进行上传处理；其中，所述常规功能测试至少包括以下之一：连通性OS测试、上电电流测试、BSD测试、Mbist测试、Scan测试以及ADCSERDES测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 珠海微度芯创科技有限责任公司 芯片接口测试方法、电路以及系统
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