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基于超声背散射信号的非均匀晶粒尺寸检测方法和系统 

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申请/专利权人:北京航空航天大学

摘要:本发明提供了一种基于超声背散射信号的非均匀晶粒尺寸检测方法和系统,涉及金属材料的技术领域,包括:获取待测金属材料的超声信号;基于所述待测金属材料的超声信号,得到所述待测金属材料的超声背散射信号;基于所述待测金属材料的超声背散射信号,得到所述待测金属材料的超声均方根背散射时域信号;基于改进的神经网络模型,对所述待测金属材料的超声均方根背散射时域信号进行反演,得到所述待测金属材料的晶粒尺寸检测结果,解决了难以对具有非均匀晶粒尺寸分布的金属材料进行准确检测的技术问题,实现了较为准确地表征包含不同晶粒尺寸子区域的边界及其内部的平均晶粒尺寸的技术效果。

主权项:1.一种基于超声背散射信号的非均匀晶粒尺寸检测方法,其特征在于,包括:获取待测金属材料的超声信号;基于所述待测金属材料的超声信号,得到所述待测金属材料的超声背散射信号;基于所述待测金属材料的超声背散射信号,得到所述待测金属材料的超声均方根背散射时域信号;基于改进的神经网络模型,对所述待测金属材料的超声均方根背散射时域信号进行反演,得到所述待测金属材料的晶粒尺寸检测结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京航空航天大学 基于超声背散射信号的非均匀晶粒尺寸检测方法和系统

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