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【发明授权】示差折光率的测定方法、测定装置以及测定程序_日本分光株式会社_201980095200.0 

申请/专利权人:日本分光株式会社

申请日:2019-12-10

公开(公告)日:2024-05-07

公开(公告)号:CN113692531B

主分类号:G01N21/41

分类号:G01N21/41;B01J20/291;G01N30/74

优先权:["20190405 JP 2019-072504"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.05.07#授权;2022.03.04#实质审查的生效;2021.11.23#公开

摘要:使用具备双流类型的示差折光率检测部RI检测部的分析装置来使RI检测部的输出信号的噪声减少的方法如下:使用试样用泵21向试样用池51输送试样液,使用参照用泵22向参照用池52输送参照液,并通过光检测器53检测依次透过两个池51、52的光的行进方向的变化。在开始进行RI测定前,调整试样用泵21和参照用泵22的相位差。也就是说,调整两个泵21、22的相位差,以使由于来自试样用泵21的脉动流在试样用池51内传播而在光检测器53的输出信号中产生的噪声与由于来自参照用泵22的脉动流在参照用池52内传播而在光检测器53的输出信号中产生的噪声相抵消。

主权项:1.一种示差折光率的测定方法,使用试样用泵向试样用池输送试样液,使用参照用泵向参照用池输送参照液,并通过光检测器检测依次透过所述试样用池和所述参照用池的光的行进方向的变化,由此测定所述试样液和所述参照液的示差折光率,所述示差折光率的测定方法的特征在于,包括以下步骤:调整值决定步骤,基于在所述光检测器的输出信号中产生的噪声波形信息来决定所述试样用泵和所述参照用泵的相位差的调整值,所述调整值同试样侧与参照侧的流路的长度差别或者连接至试样侧和参照侧的流路的设备的差别相应;以及相位差调整步骤,在开始测定所述示差折光率之前,调整所述试样用泵和所述参照用泵的相位差,其中,所述相位差调整步骤如下:调整所述试样用泵和所述参照用泵的相位差,以使由于来自所述试样用泵的脉动流在所述试样用池内传播而在所述光检测器的输出信号中产生的噪声与由于来自所述参照用泵的脉动流在所述参照用池内传播而在所述光检测器的输出信号中产生的噪声相抵消。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 日本分光株式会社 示差折光率的测定方法、测定装置以及测定程序

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