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申请/专利权人：上海壁仞科技股份有限公司
申请日：2024-02-06
公开（公告）日：2024-05-10
公开（公告）号：CN118011181A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G06F17/18
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开
摘要：本发明提供一种SOC性能统计的方法和装置、电子设备及介质，其中，所述方法包括：选择待分析的信号文件；确定所述信号文件对应的端口文件，将端口的待统计信息填写至所述端口文件中；根据所述端口文件对所述信号文件进行解析，在所述信号文件中查找到所述待统计信息的位置，并将所述位置处的与所述待统计信息对应的信号保存；对保存的所述信号进行统计，计算出所述端口的性能数据，从而可以得到SOC性能统计所用到的端口的全部性能数据，可供使用者根据性能数据进行更为深入的分析，而并非简单地分别得到各个性能指标是否达标的结论。
主权项：1.一种SOC性能统计的方法，其特征在于，包括：选择待分析的信号文件；确定所述信号文件对应的端口文件，将端口的待统计信息填写至所述端口文件中；根据所述端口文件对所述信号文件进行解析，在所述信号文件中查找到所述待统计信息的位置，并将所述位置处的与所述待统计信息对应的信号保存；对保存的所述信号进行统计，计算出所述端口的性能数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海壁仞科技股份有限公司 一种SOC性能统计的方法和装置、电子设备及介质
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皖公网安备 34010402703815号