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【发明公布】一种半导体硅片镀膜装置及其方法_南京京胜科技有限公司_202410185013.4 

申请/专利权人:南京京胜科技有限公司

申请日:2024-02-19

公开(公告)日:2024-05-10

公开(公告)号:CN118007104A

主分类号:C23C16/455

分类号:C23C16/455;C23C16/458

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.05.10#公开

摘要:本发明涉及半导体加工技术领域,具体涉及一种半导体硅片镀膜装置及其方法,包括反应室和反应室上连接的反应盖,反应室的内部安装有多组分隔块,多组分隔块用于将反应室中分隔成与进气管贯通的气流通道,气流通道的中心处且在反应盖底部安装有蓄气室,蓄气室的内部设置有蓄气装置,气流通道内在反应室的内壁环形分布有多组排气管,多组排气管的外部转动安装有石英舟座,蓄气室的底部连接有出气机构。经过出气机构将反应后气体依次引入至气流通道的多组石英舟座内,装片量大,使反应后气体不断的接触硅片表面发生化学反应形成沉积物,并逐渐在硅片的两面增长构成薄膜,经过两次的不同程度与硅片接触进行镀膜,无需翻转,使硅片表面薄膜厚度均匀性好。

主权项:1.一种半导体硅片镀膜装置,包括反应室1和反应室1上连接的反应盖2,所述反应室1的两侧均设置有进气管3,所述反应盖2的一侧连接有用于储存保护气体的气罐4,其特征在于:所述反应室1的内部安装有多组分隔块10,多组分隔块10用于将反应室1中分隔成与进气管3贯通的气流通道,且分隔块10的内部还设置有电阻加热器13;所述气流通道的中心处且在反应盖2底部安装有蓄气室9;所述气罐4通过连管14连接反应盖2的顶端,所述连管14的末端分别连接蓄气室9和反应室1;所述蓄气室9的两侧开设有与进气管3对应的进风口11,蓄气室9的内部设置有蓄气装置5,蓄气装置5用于将进气管3和连管14输入的气体在蓄气室9内进行反应;所述气流通道内在反应室1的内壁环形分布有多组排气管12,多组排气管12的外部转动安装有石英舟座7,石英舟座7的内部开设有用于夹持硅片的梯形槽8;所述蓄气室9的底部连接有出气机构6,出气机构6用于将反应后气体依次引入至气流通道的多组石英舟座7内。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京京胜科技有限公司 一种半导体硅片镀膜装置及其方法

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