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申请/专利权人：佳能株式会社
申请日：2022-09-21
公开（公告）日：2024-05-10
公开（公告）号：CN118019973A
主分类号：G01N27/30
分类号：G01N27/30;B01J19/00;G01N27/28;G01N27/416
优先权：["20210928 JP 2021-158506"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开
摘要：本发明解决的问题是提供一种微分析芯片，其可以稳定地测量离子浓度并且可以在不增大芯片尺寸或延长测量时间的情况下抑制离子从参照电极区域回流到工作电极区域对工作电极的影响。为了解决该问题，提供以下微分析芯片。具体地，在该微分析芯片中：参照电极布置在第一通道室中；样品可溶性离子晶体布置在参照电极的表面上；工作电极布置在第二通道室中；第一通道和第二通道被构造为使得：其中，从样品分配到分配部直到样品到达离子晶体的时间是T1，并且从样品分配到分配部直到样品到达工作电极的时间是T2，T1和T2具有关系T1T2。
主权项：1.一种微分析芯片，其包括多孔基材，所述多孔基材中设置有通道壁，所述通道壁限定：分配部，样品被分配到所述分配部；第一通道室；第二通道室；第一通道，其将所述分配部和所述第一通道室彼此连接；和第二通道，其将所述分配部和所述第二通道室彼此连接；其中，所述第一通道室中配置有参照电极，所述参照电极具有供具有样品可溶性的离子晶体配置的表面，其中，所述第二通道室中配置有工作电极，并且其中，所述第一通道和所述第二通道被构造为使得，当在样品被分配到所述分配部之后、样品到达所述离子晶体所需的时间段由T1表示并且在样品被分配到所述分配部之后、样品到达所述工作电极所需的时间段由T2表示时，所述时间段T1和所述时间段T2满足关系T1T2。
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