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申请/专利权人：杭州长川科技股份有限公司
申请日：2023-12-29
公开（公告）日：2024-05-10
公开（公告）号：CN118012688A
主分类号：G06F11/263
分类号：G06F11/263;G01R31/317
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开
摘要：本申请涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试的数据读取方法、测试机、测试系统及计算机可读存储介质，所述方法包括：基于各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道，生成各所述测试板卡所对应的通道读取列表；所述通道读取列表用于将各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道分为多个测试通道组；基于各所述通道读取列表，分别依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道；基于各所述通道读取列表中的各所述待测通道，分别生成各所述ADC采集单元的数据读取指令，以控制各所述ADC采集单元依次并行读取同一测试通道组的待测通道的测试数据。本申请提高了测试数据的读取效率。
主权项：1.一种芯片测试的数据读取方法，应用于测试机，所述测试机包括所述测试机包括多个测试板卡，各所述测试板卡包括多个前端单元，各所述前端单元与多个ADC采集单元连接，各所述ADC采集单元与多个引脚芯片连接，各所述引脚芯片包括至少一个设置完成的测试通道，所述测试通道用于获取待测芯片的测试数据，其特征在于，所述方法包括：基于各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道，生成各所述测试板卡所对应的通道读取列表；所述通道读取列表用于将各所述测试板卡所对应的各所述引脚芯片的测试通道分为多个测试通道组；基于各所述通道读取列表，分别依次遍历各所述测试通道组对各所述测试通道进行配置，以确定各所述测试通道中的待测通道；基于各所述通道读取列表中的各所述待测通道，分别生成各所述ADC采集单元的数据读取指令，以控制各所述ADC采集单元依次并行读取同一测试通道组的待测通道的测试数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州长川科技股份有限公司 芯片测试的数据读取方法、测试机、测试系统及介质
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