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申请/专利权人：沐曦科技(北京)有限公司
申请日：2024-04-10
公开（公告）日：2024-05-10
公开（公告）号：CN118012686A
主分类号：G06F11/22
分类号：G06F11/22
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开
摘要：本申请涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种芯片验证系统，系统包括：待测试设计DUT、目标数据压缩单元F、数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：将输入激励bi输入DUT，得到di，使用F对di压缩，得到压缩处理结果ei，根据ei更新F，重复执行前述步骤，得到压缩处理结果作为第二压缩结果E2，将存储的E1和E2比对，得到B的验证结果。可知，通过数据压缩单元，将真实输出和预期输出压缩，仅以较低位宽即可存储第一压缩结果和第二压缩结果，极大降低了芯片验证的存储成本，而且，仅需较低位宽数据一次比对即可得到验证结果，也降低了芯片验证的时间成本。
主权项：1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括：待测试设计DUT、目标数据压缩单元F、数据库、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述数据库包括输入激励集合B={b1，b2，…，bn，…，bN}、预期输出集合C={c1，c2，…，cn，…，cN}和C对应的第一压缩结果E1，其中，bn为第n个输入激励，n为[1，N]范围内的整数，N为B中输入激励的个数，cn为第n个输入激励对应的预期输出，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：S101，初始化i=1，将bi驱动至DUT，得到bi对应的真实输出di；S102，使用F对di进行压缩处理，得到压缩处理结果ei；S103，根据ei更新F；S104，更新i=i+1，返回执行S101步骤至S103步骤，直至i=N+1，得到压缩处理结果eN作为第二压缩结果E2；S105，将E1和E2进行比对，以得到的比对结果作为B的验证结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 沐曦科技(北京)有限公司 一种芯片验证系统
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