申请/专利权人：深圳市华汉伟业科技有限公司

申请日：2023-12-25

公开（公告）日：2024-05-10

公开（公告）号：CN118014932A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/11;G06V10/44;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/045;G06N3/096

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开

摘要：一种图像中结构异常与逻辑异常的检测方法、存储介质，通过将待检测图像分别输入预训练的教师网络和已训练的结构检测模块作特征提取获得该图像的多层第一特征图和第二特征图；将最高层第一特征图输入已训练的逻辑检测模块获得分辨率与最低层第一特征图一致的第三特征图；将第二特征图与第一特征图比较、第三特征图与最低层第一特征图比较，判断出存在结构异常和或逻辑异常的区域，其中结构检测模块和逻辑检测模块在预训练的教师网络的知识蒸馏下训练得到。由于通过特征对比作检测，可以只用正常样本图像进行训练，克服了异常样本缺乏的不足；且结构异常与逻辑异常的检测解耦，更好地解决结构异常与逻辑异常相结合的缺陷分割问题，提高了精度。

主权项：1.一种图像中结构异常与逻辑异常的检测方法，其特征在于，包括：获取待检测图像；将所述待检测图像输入预训练的教师网络进行特征提取以获得所述待检测图像的多层具有不同分辨率的第一特征图；将所述待检测图像输入已训练的结构检测模块进行特征提取以获得所述待检测图像的多层具有不同分辨率的第二特征图；将最高层的所述第一特征图输入已训练的逻辑检测模块进行解码重建，获得第三特征图，所述第三特征图的分辨率与最低层的所述第一特征图的分辨率保持一致；将所述第二特征图与所述第一特征图进行比较，以及将所述第三特征图与最低层的所述第一特征图进行比较，以判断所述待检测图像中存在结构异常和或逻辑异常的区域；其中所述结构检测模块和所述逻辑检测模块在所述预训练的教师网络的知识蒸馏下通过训练而得到。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳市华汉伟业科技有限公司 一种图像中结构异常与逻辑异常的检测方法、存储介质

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD