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申请/专利权人:山东浪潮科学研究院有限公司
摘要:本发明涉及芯片设计及嵌入式技术领域,具体提供了一种RISC‑V架构芯片快速测试加速单元的方法及装置,首先,将测试程序整体进行分层,整体分为SBI固件服务层、内核驱动层和应用层;所述SBI固件服务层实现对加速单元功能测试的裸机程序的实现;所述内核驱动层实现对SBI固件服务层的调用,并向应用层提供接口;所述应用层通过调用驱动层提供的接口实现对加速单元执行算法推理的测试逻辑。与现有技术相比,本发明能够快速完成加速单元测试,无需编写复杂的框架程序,简化了驱动层的代码设计。
主权项:1.一种RISC-V架构芯片快速测试加速单元的方法,其特征在于,首先,将测试程序整体进行分层,整体分为SBI固件服务层、内核驱动层和应用层;所述SBI固件服务层实现对加速单元功能测试的裸机程序的实现;所述内核驱动层实现对SBI固件服务层的调用,并向应用层提供接口;所述应用层通过调用驱动层提供的接口实现对加速单元执行算法推理的测试逻辑。
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