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【实用新型】一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机_广东科隆威智能装备股份有限公司_202322626089.X 

申请/专利权人:广东科隆威智能装备股份有限公司

申请日:2023-09-26

公开(公告)日:2024-05-10

公开(公告)号:CN220932829U

主分类号:G01N21/95

分类号:G01N21/95;G01N21/01

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.05.10#授权

摘要:本实用新型公开一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,包括上下料机构、AOI检测机构和IV检测机构,AOI检测机构处于上下料机构与IV检测机构之间,上下料机构包括上下料轨道、暂存直线模组和补料直线模组,AOI检测机构包括AOI前轨道、AOI后轨道、AOI转盘、AOI背面检测工位和AOI正面检测工位,IV检测机构包括IV转盘和IV检测位。该集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机可以针对印刷完毕的硅片进行AOI检测与IV检测,同时可适配前后速度而增加暂存位置,也能够根据数量要求进行补片,自动化检测,一体式的多功能结构,满足前后生产的需求。

主权项:1.一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机,其特征在于,包括上下料机构、AOI检测机构和IV检测机构,所述AOI检测机构处于所述上下料机构与所述IV检测机构之间,所述上下料机构包括上下料轨道、暂存直线模组和补料直线模组,所述暂存直线模组处于所述上下料轨道的中部两侧,所述补料直线模组处于所述上下料轨道的的后端一侧,所述AOI检测机构包括AOI前轨道、AOI后轨道、AOI转盘、AOI背面检测工位和AOI正面检测工位,所述AOI转盘位于所述AOI前轨道的后端,所述AOI后轨道的前端连接至所述AOI转盘的一侧,所述AOI背面检测工位处于所述AOI转盘的前方,所述AOI正面检测工位处于所述AOI后轨道的上方,所述IV检测机构包括IV转盘和IV检测位,所述IV检测位处于所述IV转盘的前方。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 广东科隆威智能装备股份有限公司 一种集合AOI检测与IV检测的自动硅片检测一体机

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