申请/专利权人:南亚科技股份有限公司
申请日:2023-06-14
公开(公告)日:2024-05-17
公开(公告)号:CN118053490A
主分类号:G11C29/50
分类号:G11C29/50
优先权:["20221116 US 18/055,847"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开
摘要:本揭示内容提供一种存储器测试系统及存储器测试方法。存储器测试系统包括至少一存储器装置、电源供应器以及处理器。电源供应器用以根据控制信号提供第一参考电压至至少一存储器装置。处理器用以提供控制信号以控制电源供应器在多个电压位准之间改变第一参考电压,并在电压位准之下测试至少一存储器装置以产生多个第一测试结果,第一测试结果对应电压位准。通过本揭示内容提供的存储器测试系统,能够自动地调整待测存储器装置所接收的参考电压,提升测试存储器装置的效率。
主权项:1.一种存储器测试系统,其特征在于,包括:至少一存储器装置;电源供应器,用以根据控制信号提供第一参考电压至该至少一存储器装置;以及处理器,用以:提供该控制信号以控制该电源供应器在多个电压位准之间改变该第一参考电压;以及在所述多个电压位准之下测试该至少一存储器装置以产生多个第一测试结果,所述多个第一测试结果对应所述多个电压位准。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 南亚科技股份有限公司 存储器测试系统及存储器测试方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。