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【发明公布】用于测量光谱的质量监测的监测过程_恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司_202311533621.1 

申请/专利权人:恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司

申请日:2023-11-16

公开(公告)日:2024-05-17

公开(公告)号:CN118050323A

主分类号:G01N21/17

分类号:G01N21/17

优先权:["20221117 DE 102022130510.4"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开

摘要:本发明涉及用于测量光谱的质量监测的监测过程。描述了一种用于监测利用光谱传感器连续地确定的液体介质的测量光谱的质量的监测过程,该光谱在每种情况下再现在指定测量波长范围Δλges中的光谱值aλi,其中:针对每个测量光谱Atj,在每种情况下,基于在每种情况下根据相应测量光谱Atj的光谱值aλi计算的至少一个特征值来确定相应测量光谱Atj的质量参数Qtj,其中,在每种情况下基于针对测量波长范围Δλges的相应特征值指定的范围Δλn,Δλ0,Δλ1,Δλ2,Δλ3中的相应测量光谱Atj的光谱值aλi来确定每个测量光谱Atj的每个特征值,并且基于质量参数Qtj,具有由干扰而受损的光谱值aλi的那些测量光谱Atj被标识为异常值AS。

主权项:1.一种用于监测由光谱传感器1、1’连续地确定的液体介质5的测量光谱Atj的质量的监测过程,所述光谱在每种情况下再现在指定测量波长范围Δλges中由所述光谱传感器1、1’接收的并且由与所述介质5的相互作用产生的测量辐射S的光谱值aλi,其中:针对每个测量光谱Atj,在每种情况下,基于在每种情况下根据相应测量光谱Atj的所述光谱值aλi计算的至少一个特征值Kn,K0,K1,K2来确定所述相应测量光谱Atj的质量参数Qtj,其中,每个测量光谱Atj的每个特征值Kn,K0,K1,K2在每种情况下被确定为在所述测量波长范围Δλges的针对相应特征值Kn,K0,K1,K2指定的范围Δλn,Δλ0,Δλ1,Δλ2,Δλ3内的所述相应测量光谱Atj的与指定参考Aref相关的所述光谱值aλi的幂的积分、总和、加权和、或加权或未加权和,基于所述测量光谱Atj的所述质量参数Qtj,具有由于干扰而受损的光谱值aλi的那些测量光谱Atj被标识为异常值AS,所述干扰在所述测量光谱Atj的确定期间发生并且损害所述质量参数Qtj,以及基于被标识为异常值AS的所述测量光谱Atj确定监测结果U并且使所述监测结果U可用。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 用于测量光谱的质量监测的监测过程

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