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【发明公布】氧化镓衬底减薄方法、衬底及超宽禁带半导体_中国电子科技集团公司第十三研究所_202410120146.3 

申请/专利权人:中国电子科技集团公司第十三研究所

申请日:2024-01-29

公开(公告)日:2024-05-17

公开(公告)号:CN118046257A

主分类号:B24B1/00

分类号:B24B1/00;H01L21/02;B24B7/22;B24B29/02;B24B41/06;B24B49/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开

摘要:本申请适用于半导体技术领域,提供了氧化镓衬底减薄方法、衬底及超宽禁带半导体,该方法包括:将待减薄的氧化镓衬底放置于晶圆中心预制的孔洞中;孔洞的尺寸与待减薄的氧化镓衬底的尺寸相同;将待减薄的氧化镓衬底和晶圆固定于载物盘上;依次对待减薄的氧化镓衬底的背面和晶圆的背面进行研磨处理和抛光处理;取出完成抛光处理的待减薄的氧化镓衬底和晶圆,得到完成减薄的氧化镓衬底。本申请以实现对氧化镓衬底的持续减薄,能够减薄至100μm以下且具有较高的成品率。

主权项:1.一种氧化镓衬底减薄方法,其特征在于,包括:将待减薄的氧化镓衬底放置于晶圆中心预制的孔洞中;所述孔洞的尺寸与所述待减薄的氧化镓衬底的尺寸相同;将所述待减薄的氧化镓衬底和所述晶圆固定于载物盘上;依次对所述待减薄的氧化镓衬底的背面和所述晶圆的背面进行研磨处理和抛光处理;取出完成抛光处理的所述待减薄的氧化镓衬底和所述晶圆,得到完成减薄的氧化镓衬底。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第十三研究所 氧化镓衬底减薄方法、衬底及超宽禁带半导体

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