龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
申请/专利权人：上海聚跃检测技术有限公司
申请日：2024-02-19
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN118050308A
主分类号：G01N17/00
分类号：G01N17/00;H01L21/66;G01N1/32;G01N1/30
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开
摘要：本发明提供一种砷化镓芯片弹坑实验的试剂及方法，所述试剂为含有碘单质和碘盐的碱性溶液。所述方法包括将所述砷化镓芯片浸泡于本发明提供的砷化镓芯片弹坑实验的试剂中，取出后进行清洗和烘干。所述试剂和方法可以准确观察PAD下层的裂纹或穿孔，不会造成PAD金属下层破损，也不会造成芯片表面电路因腐蚀过重而出现断裂破损现象。
主权项：1.一种砷化镓芯片弹坑实验的试剂，其特征在于，所述试剂包括碘单质、碘化钾、乙酸和水，所述试剂的pH为9～10；所述试剂中碘单质的摩尔浓度为13～15％，碘盐的摩尔浓度为28～30％，酸的摩尔浓度为6～8％。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海聚跃检测技术有限公司 一种砷化镓芯片弹坑实验的试剂及方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号