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【发明公布】肖特基薄膜晶体管及其制备方法_深圳技术大学_202410209269.4 

申请/专利权人:深圳技术大学

申请日:2024-02-26

公开(公告)日:2024-05-17

公开(公告)号:CN118053914A

主分类号:H01L29/786

分类号:H01L29/786;H01L21/336;H01L29/47

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开

摘要:本发明提供了一种肖特基薄膜晶体管及其制备方法,该肖特基薄膜晶体管包括衬底层、栅极层、栅极绝缘层、有源层、源极层以及漏极层,所述栅极层位于所述衬底层之上,所述栅极绝缘层位于所述栅极层之上,所述有源层位于所述栅极绝缘层之上,所述源极层以及所述漏极层分别位于所述有源层之上,所述源极层以及漏极层均包括氧化银过渡层以及银电极层,所述氧化银过渡层位于所述有源层与所述银电极层之间,用于提高肖特基结的势垒特性。本发明所制备的薄膜晶体管具有关态电流小,电流开关比高,输出阻抗大等优点。连续沉积氧化银过渡层与银电极层,减少了器件的界面污染,在在氧化物半导体电子电路中有广阔的应用前景。

主权项:1.一种肖特基薄膜晶体管,其特征在于,包括衬底层、栅极层、栅极绝缘层、有源层、源极层以及漏极层,所述栅极层位于所述衬底层之上,所述栅极绝缘层位于所述栅极层之上,所述有源层位于所述栅极绝缘层之上,所述源极层以及所述漏极层分别位于所述有源层之上,所述源极层以及漏极层均包括氧化银过渡层以及银电极层,所述氧化银过渡层位于所述有源层与所述银电极层之间,用于提高肖特基结的势垒特性。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 深圳技术大学 肖特基薄膜晶体管及其制备方法

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