申请/专利权人:三井金属矿业株式会社
申请日:2023-01-16
公开(公告)日:2024-05-17
公开(公告)号:CN118056282A
主分类号:H01L29/786
分类号:H01L29/786;C23C14/08;C23C14/34;H01L21/203;H01L21/336
优先权:["20220131 JP 2022-013647"]
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.05.17#公开
摘要:本发明涉及场效应晶体管,其包括:具有250℃以下的玻璃化转变温度的基材;和在该基材上设置的氧化物半导体层。上述氧化物半导体层由包含铟In元素、锌Zn元素和添加元素X的氧化物来形成。添加元素X为选自钽即Ta元素、锶Sr元素和铌Nb元素中的至少一种的元素。各元素的原子比满足式1至3的全部。0.4≤In+XIn+Zn+X≤0.81;0.2≤ZnIn+Zn+X≤0.62;0.001≤XIn+Zn+X≤0.0153。
主权项:1.一种场效应晶体管,其包括:具有250℃以下的玻璃化转变温度的基材;和在该基材上设置的氧化物半导体层,其中,所述氧化物半导体层由包含铟即In元素、锌即Zn元素和添加元素X的氧化物来形成,添加元素X为选自钽即Ta元素、锶即Sr元素和铌即Nb元素中的至少一种的元素,各元素的原子比满足式1至3的全部,式中的X设定为所述添加元素的含有比的总和,0.4≤In+XIn+Zn+X≤0.810.2≤ZnIn+Zn+X≤0.620.001≤XIn+Zn+X≤0.0153。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 三井金属矿业株式会社 场效应晶体管及其制造方法以及场效应晶体管制造用溅射靶材
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