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摘要：本公开提供一种检测方法、装置及存储介质，其中，检测方法包括：在显示面板的制备过程中，在第一测量区形成第一测量结构；将第一测量结构中对第一金属图形的检测结果，确定为目标测量结构中目标金属图形的检测结果。本公开中，在显示面板的制备过程中，可在第一测量区设置第一测量结构，并采用与目标测量区中目标测量结构的制程制备第一测量结构，使得第一测量结构作为目标测量结构的等效测量结构，然后将第一测量结构中对第一金属图形的检测结果，确定为目标测量结构中目标金属图形的检测结果，从而完成对目标测量结构中目标金属图形的准确检测，更好地保证显示面板的顺利制备。
主权项：1.一种检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：在显示面板的制备过程中，在第一测量区形成第一测量结构；其中，所述第一测量结构采用所述显示面板的目标测量区的目标测量结构的制程制备，所述第一测量结构包括N层无机图形，以及位于所述N层无机图形上层的第一金属图形，所述目标测量结构包括N层金属图形，以及位于所述N层金属图形上层的目标金属图形，所述N层无机图形与所述N层金属图形一一对应，所述第一金属图形与所述目标金属图形对应，N为大于或等于1的正整数；将所述第一测量结构中对所述第一金属图形的检测结果，确定为所述目标测量结构中所述目标金属图形的检测结果。
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