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申请/专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日：2022-11-09
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN118052749A
主分类号：G06T7/00
分类号：G06T7/00;G06V10/762
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开
摘要：本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取待测物的缺陷图像，并从缺陷图像中确定待分析的缺陷块；从待分析的缺陷块中选定目标缺陷块，确定目标缺陷块的参考外接框；基于预设聚类半径，将参考外接框进行外扩，形成扩展外接框；根据参考外接框与扩展外接框之间的中间区域是否存在中间缺陷像素的检测结果，确定聚类缺陷；在缺陷图像中除聚类缺陷外还存在至少一个离散的缺陷块的情况下，以离散的缺陷块作为待分析的缺陷块，返回从待分析的缺陷块中选定目标缺陷块，确定目标缺陷块的参考外接框的步骤，直至在缺陷图像中除聚类缺陷外无离散的缺陷块。如此，通过简单操作即可完成对缺陷的聚类，有利于快速且准确检测出真实缺陷。
主权项：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测物的缺陷图像，并从所述缺陷图像中确定待分析的缺陷块；从所述待分析的缺陷块中选定目标缺陷块，确定所述目标缺陷块的参考外接框；基于预设聚类半径，将所述参考外接框进行外扩，形成扩展外接框；根据所述参考外接框与所述扩展外接框之间的中间区域是否存在中间缺陷像素的检测结果，确定聚类缺陷；在所述缺陷图像中除所述聚类缺陷外还存在至少一个离散的缺陷块的情况下，以所述离散的缺陷块作为待分析的缺陷块，返回从所述待分析的缺陷块中选定目标缺陷块，确定所述目标缺陷块的参考外接框的步骤，直至在所述缺陷图像中除所述聚类缺陷外无离散的缺陷块。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳中科飞测科技股份有限公司 缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
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