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申请/专利权人：深圳市赋研星辰科技有限公司
申请日：2024-04-15
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN118052816A
主分类号：G06T7/00
分类号：G06T7/00;G06V10/762;G06V10/22;G06V10/82;G06V10/764
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.04#实质审查的生效;2024.05.17#公开
摘要：本申请涉及一种PCBA表面缺陷检测方法、系统。所述方法包括：获取标准电路板的各角度的标准结构图像，以及待测电路板的各所述角度的待测结构图像，并针对每个角度，将所述角度的标准结构图像、与所述角度的待测结构图像进行图像映射处理，得到所述角度的映射对比图；通过图像差异识别网络，识别所述映射对比图中的差异像素点，并对各所述差异像素点进行聚类处理，得到各差异图像；识别每个差异图像的图像差异类型，并筛选目标图像差异类型的目标差异图像、以及所述目标差异图像的各差异像素点的点位置信息，作为所述待测电路板的目标缺陷信息。采用本方法能够提升对PCBA表面缺陷检测的精准度。
主权项：1.一种PCBA表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取标准电路板的各角度的标准结构图像，以及待测电路板的各所述角度的待测结构图像，并针对每个角度，将所述角度的标准结构图像、与所述角度的待测结构图像进行图像映射处理，得到所述角度的映射对比图；通过图像差异识别网络，识别所述映射对比图中的差异像素点，并对各所述差异像素点进行聚类处理，得到各差异图像；识别每个差异图像的图像差异类型，并筛选目标图像差异类型的目标差异图像、以及所述目标差异图像的各差异像素点的点位置信息，作为所述待测电路板的目标缺陷信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市赋研星辰科技有限公司 一种PCBA表面缺陷检测方法、系统
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