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【发明公布】具有采样的架构的金属检测器_埃克斯普洛雷尔公司_202280067187.X 

申请/专利权人:埃克斯普洛雷尔公司

申请日:2022-10-04

公开(公告)日:2024-05-17

公开(公告)号:CN118056141A

主分类号:G01V3/10

分类号:G01V3/10

优先权:["20211004 FR FR2110487"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.05.17#公开

摘要:本发明涉及磁检测技术领域。特别地,本发明涉及一种用于检测暴露于磁检测场的至少一个金属物体的金属检测器100。本发明提供了一种使用具有采样架构的接收器的金属检测器。特别地,在这种类型的架构中,采样操作与量化和编码操作分开。相比之下,在常规架构中,通常在模数转换器ADC上并行执行这三个操作。在采样架构的上下文中,对接收信号直接执行采样,并且在离散时间中执行大多数信号处理例如,通过使用具有用于切换目的的MOS开关的开关电容器系统。

主权项:1.一种金属检测器100,用于检测暴露于检测磁场的至少一个金属物体,所述金属检测器100包括:-至少一个接收线圈110,被布置成接收称为接收信号st的磁场信号,所述接收信号st表示所述检测磁场在所述金属物体的影响下的至少一个修改,所述接收信号st包括给定带宽的至少一个检测信道,每个检测信道与单独的检测频率fD相关联,以及-至少一个采样架构接收器120,其耦接到所述接收线圈110,其中,-所述采样架构接收器120包括被称为第一采样器121的非量化类型的第一采样设备,所述第一采样器121被配置为以遵守奈奎斯特-香农带宽采样定理的第一采样频率f1,对接收信号st或作为接收信号的导数的信号|st|、|st*|、|s’[t]|、|s′[t]*|、|s′+[t]|进行采样,使得-传递被称为第一采样信号s[t]的离散时间信号,该第一采样信号s[t]在频谱域中对应于所述接收信号st的复制信号或作为所述接收信号的导数的信号s′[t]的复制信号,以及-将所述接收信号st频率变换到小于所述检测频率fD的第一中频。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 埃克斯普洛雷尔公司 具有采样的架构的金属检测器

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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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