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【发明授权】基于曲面基准要素建立基准特征的测量方法_北京航空材料研究院股份有限公司_202111027529.9 

申请/专利权人:北京航空材料研究院股份有限公司

申请日:2021-09-02

公开(公告)日:2024-05-17

公开(公告)号:CN113916169B

主分类号:G01B21/00

分类号:G01B21/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.05.17#授权;2022.04.01#著录事项变更;2022.01.28#实质审查的生效;2022.01.11#公开

摘要:本发明提供的一种基于曲面基准要素建立基准特征的测量方法,涉及机械设计技术领域,包括如下步骤:建立数模坐标系,在所述数模坐标系内,将零件的测量基准要素与理论基准数模进行虚拟装配,然后确定曲面的模拟基准,在该模拟基准下对零件进行测量。在上述技术方案中,对零件进行虚拟装配后,可以通过区分曲面类型计算理论坐标系的位置,进而根据坐标系原理构造点、线、面特征,进而确定曲面的模拟基准,通过这个算法,既模拟了曲面基准在装配时的作用,又通过模拟基准代替了曲面基准参与尺寸评价,保证了尺寸评价的真实性和重复稳定性,能够有效解决因曲面基准要素导出中心要素的测量误差较大问题。

主权项:1.一种基于曲面基准要素建立基准特征的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:建立数模坐标系,在所述数模坐标系内,将零件的测量基准要素与理论基准数模进行虚拟装配,然后确定曲面的模拟基准,在该模拟基准下对零件进行测量;其中:所述模拟基准包括特征曲面的模拟基准和非特征曲面的模拟基准;建立特征曲面的数模坐标系包括:根据半径为RX的曲面,将所述数模坐标系的原点建立在理论RX的中心轴线上,并使其所述中心轴线与所述数模坐标系的Z轴重合,然后将所述数模坐标系的原点向X轴方向分别沿正负方向向外延伸L至曲面的边界,并朝向所述曲面做垂直距离d;建立非特征曲面的数模坐标系包括:将曲面在X轴方向的中点确定为所述数模坐标系的原点,然后利用X轴和Z轴构成二维平面XZ,并保证所述曲面上的点至所述二维平面XZ的垂直距离的平方和为最小值;根据曲面基准位置和零件自由度确定特征曲面的模拟基准包括:利用所述数模坐标系的X轴和Z轴构造平面XZ,并利用所述数模坐标系的Z轴构造直线Z,然后根据所述平面XZ和所述直线Z构造所述曲面的模拟基准;根据曲面基准位置和零件自由度确定非特征曲面的模拟基准包括:利用所述数模坐标系的X轴和Z轴构造平面XZ,利用所述数模坐标系的Z轴和Y轴构造平面YZ,然后根据所述平面XZ和所述平面YZ构造所述曲面的模拟基准。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京航空材料研究院股份有限公司 基于曲面基准要素建立基准特征的测量方法

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