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【发明授权】声波器件的制作方法及声波器件_武汉衍熙微器件有限公司_202011253740.8 

申请/专利权人:武汉衍熙微器件有限公司

申请日:2020-11-11

公开(公告)日:2024-05-17

公开(公告)号:CN112532200B

主分类号:H03H9/02

分类号:H03H9/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.05.17#授权;2021.04.06#实质审查的生效;2021.03.19#公开

摘要:本公开实施例公开了一种声波器件的制作方法及声波器件,方法包括:提供第一衬底;第一衬底表面的器件区用于承载谐振单元;提供第二衬底;第二衬底包括层叠设置的支撑层和保护层;在支撑层中对应于器件区位置形成贯穿支撑层的第一通孔;第一通孔的开口尺寸大于器件区的尺寸;键合第一衬底和第二衬底;第一通孔用于容纳谐振单元;所述方法还包括以下之一:在键合第一衬底和第二衬底前,在第一衬底上形成谐振单元的反射结构,对谐振单元进行调频处理;在键合第一衬底和第二衬底前,在第一衬底上形成反射结构;在键合第一衬底和第二衬底后,对谐振单元进行调频处理;在键合第一衬底和第二衬底后,在第一衬底上形成反射结构,对谐振单元进行调频处理。

主权项:1.一种声波器件的制作方法,其特征在于,包括:提供第一衬底;其中,所述第一衬底表面的器件区用于承载谐振单元,所述谐振单元包括依次层叠设置的反射结构、第一电极层、压电层、第二电极层和调整层;提供第二衬底;其中,所述第二衬底包括层叠设置的支撑层和保护层;在所述支撑层中对应于所述器件区位置,形成贯穿所述支撑层的第一通孔;其中,所述第一通孔的开口尺寸大于所述器件区的尺寸;键合所述第一衬底和所述第二衬底;其中,所述第一通孔用于容纳所述谐振单元;所述方法还包括以下之一:在键合所述第一衬底和所述第二衬底之前,在所述第一衬底上形成所述反射结构,并对所述谐振单元进行调频处理;在键合所述第一衬底和所述第二衬底之前,在所述第一衬底上形成所述反射结构;在键合所述第一衬底和所述第二衬底之后,对所述谐振单元进行调频处理;在键合所述第一衬底和所述第二衬底之后,在所述第一衬底上形成所述反射结构,并对所述谐振单元进行调频处理;其中,所述对所述谐振单元进行调频处理,包括:修整所述调整层。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 武汉衍熙微器件有限公司 声波器件的制作方法及声波器件

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