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申请/专利权人：常州旺童半导体科技有限公司
申请日：2023-09-25
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN220983341U
主分类号：G01R1/04
分类号：G01R1/04;G01R31/26
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.17#授权
摘要：本实用新型公开了一种半导体的性能检测仪器，包括性能检测仪器本体、工作台和显示器，所述工作台固定连接在性能检测仪器本体的正面，所述显示器设置在性能检测仪器本体的右侧，所述性能检测仪器本体内部的右侧固定连接有调节板，所述调节板的内部开设有调节槽。本实用新型通过设置调节板和调节架，便于使用者使调节架通过调节槽和调节板带动显示器进行调节，进而达到了调节的效果，解决了目前性能检测仪器使用的显示器都是在固定安装在一定高度，并不具备调节的结构，在不同身高的操作工进行观察时会出现显示器较高或较低的情况，不便于操作工观察显示器，进而具备一定局限性的问题。
主权项：1.一种半导体的性能检测仪器，包括性能检测仪器本体1、工作台2和显示器3，其特征在于：所述工作台2固定连接在性能检测仪器本体1的正面，所述显示器3设置在性能检测仪器本体1的右侧，所述性能检测仪器本体1内部的右侧固定连接有调节板4，所述调节板4的内部开设有调节槽5，所述调节槽5的内部滑动连接有调节架6，所述调节架6的另一端与显示器3的左侧固定连接，所述调节架6的左侧固定连接有辅助调节机构7，所述性能检测仪器本体1正面的右侧开设有限位机构8。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 常州旺童半导体科技有限公司 一种半导体的性能检测仪器
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