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申请/专利权人：上海奎芯集成电路设计有限公司
申请日：2024-02-18
公开（公告）日：2024-05-14
公开（公告）号：CN118038929A
主分类号：G11C11/4076
分类号：G11C11/4076;G11C11/409;G11C7/22
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.31#实质审查的生效;2024.05.14#公开
摘要：本申请提供一种基于前导训练模式的读DQS门控信号训练方法和装置，属于存储器技术领域，所述方法包括：控制当前DRAM颗粒进入前导训练模式，并读取当前DRAM颗粒的读训练数据类型；基于初始读DQS门控信号对读DQS信号进行采样或截取操作，并基于采样得到的初始采样值或截取得到的门控读DQS信号对应的初始计数值将初始读DQS门控信号调节到目标位置；基于目标位置对应的延迟量及读DQS信号中前导部分对应的时长，确定读DQS门控信号的最佳位置，能够避免DQS的高阻状态对DQS门控信号训练的影响，进而在保证DQS门控信号训练结果准确性的基础上最大限度提升训练效率。
主权项：1.一种基于前导训练模式的读DQS门控信号训练方法，其特征在于，所述方法包括：控制当前DRAM颗粒进入前导训练模式，并读取当前DRAM颗粒的读训练数据类型；基于初始读DQS门控信号对读DQS信号进行采样或截取操作，并基于采样得到的初始采样值或截取得到的门控读DQS信号对应的初始计数值将初始读DQS门控信号调节到目标位置；基于目标位置对应的延迟量及读DQS信号中前导部分对应的时长，确定读DQS门控信号的最佳位置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海奎芯集成电路设计有限公司 基于前导训练模式的读DQS门控信号训练方法和装置
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