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申请/专利权人：埃特曼半导体技术有限公司
申请日：2024-02-01
公开（公告）日：2024-05-14
公开（公告）号：CN118032825A
主分类号：G01N23/20025
分类号：G01N23/20025
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.31#实质审查的生效;2024.05.14#公开
摘要：本申请实施例涉及一种样品台和X射线衍射设备，所述样品台包括：支座和样品架；样品架包括至少两个外径不同的样品环，至少两个所述样品环依次套接，至少一个所述样品环连接于所述支座，至少一个所述样品环可拆卸；每个所述样品环上均具有安装样品的安装位。应用于X射线衍射设备时，样品台不仅支持对样品反射特性的检测，还支持对样品透射特性的检测，例如：可以保留外圈的样品环，而拆卸内圈部分的样品环，以减少内圈部分样品环对射线的阻挡，并利用外圈样品环对样品固定。
主权项：1.一种样品台，其特征在于，所述样品台包括：支座；样品架，所述样品架包括至少两个外径不同的样品环，至少两个所述样品环依次套接，至少一个所述样品环连接于所述支座，至少一个所述样品环可拆卸；每个所述样品环上均具有安装样品的安装位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 埃特曼半导体技术有限公司 一种样品台和X射线衍射设备
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