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申请/专利权人：成都信息工程大学
申请日：2024-05-10
公开（公告）日：2024-06-04
公开（公告）号：CN118130507A
主分类号：G01N22/02
分类号：G01N22/02;G01B15/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.06.21#实质审查的生效;2024.06.04#公开
摘要：本发明涉及一种非金属材料内部缺陷埋深高精度定量检测方法，属于微波无损检测领域，包括：将透镜与开口矩形波导组成传感器，并与待测物表面保持一恒定距离；通过传感器采集与待测物同厚度、同材料且无缺陷时的多个S11离散频谱响应点，并转换为S11时域信号，作为参考S11时域信号；采集传感器在待测物某位置的多个S11离散频谱响应点，并转换为S11时域信号作为检测的S11时域信号；基于特征提取算法，对特征参数进行线性拟合，建立其与缺陷埋藏深度之间的关系，实现定量检测。本发明将开口矩形波导与透镜相结合，使传感器具有高集中性的电场分布，提升了缺陷检测的效果，能有效利用时域信号分析在纵向信息获取上的优势。
主权项：1.一种非金属材料内部缺陷埋深高精度定量检测方法，其特征在于：所述检测方法包括：将设计好的GRINMS透镜放置在开口矩形波导面向待测物的一侧，并与开口矩形波导组成传感器，且传感器与待测物表面保持一恒定距离；通过传感器采集与待测物同厚度、同材料且无缺陷时的多个S11离散频谱响应点，将其转换为S11时域信号，作为后续进行判别的参考S11时域信号；采集传感器在待测物Z方向、X-Y平面某位置的多个S11离散频谱响应点，将其转换为S11时域信号，作为所获取的检测的S11时域信号；基于S11时域信号分析的特征提取算法，通过对特征参数进行线性拟合，建立其与缺陷埋藏深度之间的关系，实现对缺陷埋深的定量检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都信息工程大学 一种非金属材料内部缺陷埋深高精度定量检测方法
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