恭喜京东方科技集团股份有限公司王子路获国家专利权
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龙图腾网恭喜京东方科技集团股份有限公司申请的专利目标检测方法及装置、存储介质及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114155567B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010933809.5，技术领域涉及：G06V40/16；该发明授权目标检测方法及装置、存储介质及电子设备是由王子路设计研发完成，并于2020-09-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本目标检测方法及装置、存储介质及电子设备在说明书摘要公布了：本公开涉及图像处理技术领域，具体涉及一种目标检测方法及装置、计算机可读存储介质及电子设备，方法包括：获取输入图像，并采用第一卷积层和第二卷积层对输入图像进行特征提取得到参考特征图像；采用第三卷积层对参考特征图像进行特征提取得到第一目标特征图，并采用第四卷积层对第一目标特征图像进行特征提取得到第二目标特征图像；获取第一目标特征图像和第二目标特征图像上每一个点的参考预选图像；在多个参考预选图像中确定目标预选图像，并利用目标检测算法完成目标检测。本公开实施例的技术方案克服了现有技术中的目标检测方法浪费计算资源、实时性较差的不足。
本发明授权目标检测方法及装置、存储介质及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种目标检测方法，其特征在于，包括：获取输入图像，并采用第一卷积层和第二卷积层对所述输入图像进行特征提取得到参考特征图像；采用第三卷积层对所述参考特征图像进行特征提取得到第一目标特征图，并采用第四卷积层对第一目标特征图像进行特征提取得到第二目标特征图像；获取所述第一目标特征图像和第二目标特征图像上每一个点的参考预选图像；在多个所述参考预选图像中确定目标预选图像，并利用目标检测算法完成目标检测；其中第一卷积层和第二卷积层均为单模块残差卷积层，所述第三卷积层和所述第四卷积层为双模块残差卷积层；所述单模块残差卷积层包括并行设计的第一卷积单元以及残差网络单元；所述双模块残差卷积层包括串行设计的第二卷积单元和第三卷积单元，以及与第二卷积单元和第三卷积单元并行设计的残差网络单元。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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