申请/专利权人：镭神技术(深圳)有限公司

申请日：2020-05-22

公开（公告）日：2020-07-24

公开（公告）号：CN111442835A

主分类号：G01J1/42(20060101)

分类号：G01J1/42(20060101);G01J3/28(20060101);G01J3/02(20060101);G05D23/24(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.08.18#实质审查的生效;2020.07.24#公开

摘要：本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及激光芯片测试平台，测试收光装置、XY轴芯片载料台、可调节探针台、图像采集装置均通过螺栓紧固于测试设备上，并且均连接于测试设备的控制系统，测试收光装置包括光功率探测器，光功率探测器连接于测试设备的光功率测试系统，用于测试激光芯片的光功率，测试收光装置包括耦合透镜和多模光纤，多模光纤的一端连接于耦合透镜，另一端连接于光谱分析仪，用于激光芯片的光谱测试。与现有技术相比，本发明的激光芯片测试平台采用耦合透镜将激光芯片与多模光纤进行耦合，结构设计保证精度，无需进行精密的光学对位，降低成本的同时极大的缩短了测试时间，提供测试效率。

主权项：1.激光芯片测试平台，用于测试设备内对激光芯片进行光功率和光谱测试，其特征在于，包括测试收光装置，用于接收激光芯片所发出的激光；所述测试收光装置一侧设置有XY轴芯片载料台，用于承载放置激光芯片，并为激光芯片提供测试所需的温度条件；所述XY轴芯片载料台侧面设置有可调节探针台，可调节探针台与XY轴芯片载料台电连接，用于给激光芯片加电发出激光；所述测试收光装置的另一侧面还设置有图像采集装置，用于采集激光芯片的位置信息；所述测试收光装置、XY轴芯片载料台、可调节探针台、图像采集装置均通过螺栓紧固于测试设备上，并且均连接于测试设备的控制系统；所述测试收光装置包括光功率探测器，所述光功率探测器连接于测试设备的光功率测试系统，用于测试激光芯片的光功率；所述测试收光装置包括耦合透镜和多模光纤，所述多模光纤的一端连接于耦合透镜，另一端连接于光谱分析仪，用于激光芯片的光谱测试。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 镭神技术(深圳)有限公司 激光芯片测试平台

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD