申请/专利权人：克勒克纳彭塔普拉斯特有限公司

申请日：2019-04-12

公开（公告）日：2020-11-20

公开（公告）号：CN111971683A

主分类号：G06K9/00(20060101)

分类号：G06K9/00(20060101)

优先权：["20180412 DE 102018108741.1"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.02.05#实质审查的生效;2020.11.20#公开

摘要：本发明涉及一种用于光学产品验证的方法和系统，其中，用光学上有效的颗粒标识产品，在记录步骤中记录光学上有效的颗粒的基准图像，而在识别步骤中记录光学上有效的颗粒的识别图像，并且通过比对图像数据或由图像数据导出的编码验证产品。

主权项：1.用于光学的产品验证的方法，所述方法包括：a用于通过以下方式标识产品的步骤：-将产品包装在薄膜中；或者-给产品或产品的包装配备标签；或者-给产品、产品的包装或设置在产品或产品的包装上的标签配备漆层来进行标识；其中，-所述薄膜、所述标签或所述漆层包含随机分布的、反射和或发冷光的颗粒；b用于通过以下方式记录根据a标识的产品的步骤：-用光照射所述产品，使得所述颗粒进行反射或发冷光；-利用相机记录所述反射和或发冷光的颗粒的一个或多个数字式的基准图像；以及c用于通过以下方式验证根据b记录的产品的步骤：-用光照射所述产品，使得所述颗粒进行反射或发冷光；-利用相机记录所述反射和或发冷光的颗粒的一个或多个识别图像；-数字式地将所述至少一个识别图像与所述至少一个基准图像进行比对；-如果所述至少一个识别图像和所述至少一个基准图像充分地彼此相符，则显示肯定的验证结果；或者-如果所述至少一个识别图像和所述至少一个基准图像充分地彼此相差，则显示否定的验证结果；其特征在于，数字式地补偿所述至少一个识别图像和所述至少一个基准图像之间由于成像导致的偏差。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 克勒克纳彭塔普拉斯特有限公司 用于进行光学的产品验证的方法和系统

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