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【实用新型】用于检测弧面区域内部缺陷的装置_捷普电子(新加坡)公司_202020272195.6 

申请/专利权人:捷普电子(新加坡)公司

申请日:2020-03-06

公开(公告)日:2020-12-01

公开(公告)号:CN212059943U

主分类号:G01N21/88(20060101)

分类号:G01N21/88(20060101);G01N21/01(20060101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2020.12.01#授权

摘要:本实用新型实施例提供一种用于检测弧面区域内部缺陷的装置,属于检测领域。所述装置包括摄像机和光源结构,所述光源结构包括至少第一光源、第二光源,其中所述第一光源和所述第二光源位于摄像机的一侧,所述第一光源和所述第二光源与产品的被测弧面区域的高度不同,其中所述第一光源的光线出口侧设置有第一光栅,所述第二光源的光线出口侧设置有第二光栅,所述第一光栅和所述第二光栅使得所述第一光源照射所述被测弧面区域形成的第一照亮带和所述第二光源照射所述被测弧面区域形成的第二照亮带相互垂直,所述摄像机用于对所述第一照亮带和所述第二照亮带进行拍摄。其能够快速确定被测弧面区域的内部是否存在缺陷,并且能够确保检测结果的客观、准确。

主权项:1.一种用于检测弧面区域内部缺陷的装置,其特征在于,所述装置包括摄像机和光源结构,所述光源结构包括至少第一光源、第二光源,其中所述第一光源和所述第二光源位于摄像机的一侧,所述第一光源和所述第二光源与产品的被测弧面区域的高度不同,其中所述第一光源的光线出口侧设置有第一光栅,所述第二光源的光线出口侧设置有第二光栅,所述第一光栅和所述第二光栅使得所述第一光源照射所述被测弧面区域形成的第一照亮带和所述第二光源照射所述被测弧面区域形成的第二照亮带相互垂直,所述摄像机用于对所述第一照亮带和所述第二照亮带进行拍摄。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 捷普电子(新加坡)公司 用于检测弧面区域内部缺陷的装置

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