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【发明公布】一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法_中国科学院西安光学精密机械研究所_202010849696.0 

申请/专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日:2020-08-21

公开(公告)日:2020-12-25

公开(公告)号:CN112129407A

主分类号:G01J3/28(20060101)

分类号:G01J3/28(20060101);G06T7/136(20170101);G06T7/13(20170101);G06T7/60(20170101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2021.09.14#授权;2021.01.12#实质审查的生效;2020.12.25#公开

摘要:本发明涉及月盘辐照度获取方法,为解决目前通过地基对月观测系统获取月球辐照数据的方法,仅能在满月时刻较精确求出月球轮廓区域的圆心和半径,无法获取全月相周期月球辐照数据的技术问题,提供一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法,包括S1,对狭缝型光谱仪的扫描数据进行预处理,得到月球光谱数据立方体;S2,从月球光谱数据立方体中得到特征波段灰度图;S3,通过阈值分割法从特征波段灰度图中提取月球二值化图像;S4,通过积分运算获取月球二值化图像边界点;S5,判断月相周期;S6,根据月相周期,通过月球二值化图像边界点,对特征波段灰度图采用三点法获得月球轮廓;S7,对月球轮廓内区域进行全月辐照度积分,得到月盘辐照度。

主权项:1.一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,对狭缝型光谱仪的扫描数据进行预处理,通过组帧得到月球光谱数据立方体;S2,从月球光谱数据立方体中选取高响应特征波段,得到特征波段灰度图;S3,通过阈值分割法从特征波段灰度图中提取月球二值化图像;S4,通过积分运算获取月球二值化图像边界点;S5,通过对比月球二值化图像的中心位置和月球二值化图像的最长垂线位置,判断月相周期;或者,通过对比月球二值化图像最左侧边界点和最右侧边界点到最长垂线的距离,判断月相周期;S6,根据月相周期,通过月球二值化图像边界点,对特征波段灰度图采用三点法获得月球轮廓;S7,对月球轮廓内区域进行全月辐照度积分,得到月盘辐照度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种狭缝型光谱仪全月相周期月盘辐照度获取方法

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