申请/专利权人：美光科技公司

申请日：2020-07-17

公开（公告）日：2021-01-19

公开（公告）号：CN112242176A

主分类号：G11C29/42(20060101)

分类号：G11C29/42(20060101);G11C29/44(20060101);G11C29/56(20060101)

优先权：["20190717 US 16/514,685"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.04.05#授权;2021.02.05#实质审查的生效;2021.01.19#公开

摘要：本申请涉及一种具有测试接口的存储装置。一种实例系统包括：主总线，其电耦合到由测试模式信号控制的主多路复用器，以在主物理接口PHY与多个从总线中的一个从总线之间进行选择，其中每一从总线电耦合到由所述测试模式信号控制的相应从多路复用器，以在相应从PHY与所述主总线之间进行选择；多个存储器组件，其中所述多个存储器组件中的每一存储器组件电耦合到以下各项中的一者：所述主总线或所述多个从总线中的一个从总线；以及存储器测试接口，其电耦合到所述主总线。

主权项：1.一种系统，其包括：主总线，其电耦合到由测试模式信号控制的主多路复用器，以在主物理接口PHY与多个从总线中的一个从总线之间进行选择，其中每一从总线电耦合到由所述测试模式信号控制的相应从多路复用器，以在相应从PHY与所述主总线之间进行选择；多个存储器组件，其中所述多个存储器组件的每一存储器组件电耦合到以下各项中的一者：所述主总线或所述多个从总线中的一个从总线；以及存储器测试接口，其电耦合到所述主总线。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美光科技公司 具有测试接口的存储装置

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