申请/专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所

申请日：2019-12-09

公开（公告）日：2022-05-13

公开（公告）号：CN111044886B

主分类号：G01R31/3183

分类号：G01R31/3183;G01R31/3187

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.05.13#授权;2020.05.15#实质审查的生效;2020.04.21#公开

摘要：本发明公开了一种DDR23PHYBIST数据通道测试向量生成方法，包括如下步骤：1选择LFSR结构，利用低频率时钟驱动LFSR结构产生伪随机数；2交织选择LFSR结构中移位寄存器值作为测试数据；3对测试数据进行组合，构造出最终测试向量。本发明结构简单易实现，在满足测试需求的条件下减小了BIST运行频率，降低功耗。

主权项：1.一种DDR23PHYBIST数据通道测试向量生成方法，其特征在于包括如下步骤：1选择LFSR结构，利用低频率时钟驱动LFSR结构产生伪随机数；2交织选择LFSR结构中移位寄存器值作为测试数据；从LFSR结构的n+1个移位寄存器中选择n个移位寄存器的值，对n个移位寄存器的值进行交织选择，得到每位DQ分配的测试数据，具体方式如下：将n个移位寄存器的值随机分成2×R等份，每份有B位测试数据，2×R份测试数据分配给DQ，每位DQ分配2×R个测试数据；n按照如下方式确定： 其中M为DQS频率，在DQS双沿变化的DQ频率为2×M；B为数据通道DQ位宽；PHY与DDR颗粒时钟频率之比为1：R，LFSR结构时钟频率为MR；3对测试数据进行组合，构造出最终测试向量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 一种DDR2/3 PHY BIST数据通道测试向量生成方法

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