申请/专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所

申请日：2019-12-09

公开（公告）日：2022-05-13

公开（公告）号：CN111044887B

主分类号：G01R31/3183

分类号：G01R31/3183;G01R31/3187

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2022.05.13#授权;2020.05.15#实质审查的生效;2020.04.21#公开

摘要：本发明公开了一种DDR23PHYBIST命令通道测试向量生成方法，包括如下步骤：1选择LFSR结构，利用低频率时钟驱动LFSR结构产生伪随机数；2选择LFSR结构中移位寄存器值作为测试数据；3对测试数据进行编码，构造出最终测试向量。本发明结构简单易实现，生成的测试向量能够充分检验信道抗串扰和驱动能力，并且在满足测试需求的条件下减小了BIST运行频率，降低功耗。

主权项：1.一种DDR23PHYBIST命令通道测试向量生成方法，其特征在于包括如下步骤：1选择LFSR结构，利用低频率时钟驱动LFSR结构产生伪随机数；2选择LFSR结构中移位寄存器值作为测试数据；所述步骤2中，从LFSR结构的n+1个移位寄存器中选择n个移位寄存器的值分配给命令通道信号作为测试数据；选择n个移位寄存器的值分配给命令通道信号作为测试数据的具体方式如下：若n＝maxM,N，先将n个移位寄存器的值随机分配给两组命令通道信号中信号位宽最多的一组，再从所选的n个移位寄存器中随机选择minM,N个移位寄存器的值分配给另一组命令通道信号；若n＝M+N，将n个移位寄存器的值随机分配给所有命令通道信号；3对测试数据进行编码，构造出最终测试向量；利用2B4B编码方法对测试数据进行编码，构造出最终测试向量；每位命令通道信号进行2B4B编码的方式如下： 源码数据 00 01 10 11 编码数据 0110 1001 0101 1010 。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 一种DDR2/3 PHY BIST命令通道测试向量生成方法

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