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【发明授权】一种减小土壤类型对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法_天津农学院_201910878798.2 

申请/专利权人:天津农学院

申请日:2019-09-18

公开(公告)日:2022-05-17

公开(公告)号:CN110793947B

主分类号:G01N21/64

分类号:G01N21/64;G01N21/3563;G01N21/359

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2022.05.17#授权;2020.03.10#实质审查的生效;2020.02.14#公开

摘要:本发明属于检测方法领域,涉及土壤中多环芳烃的检测,尤其是一种减小土壤类型对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法,包括如下步骤,步骤1:选取多个不同类型的土壤样本,并针对土壤样本制备多个不同浓度多环芳烃的土壤样品;步骤2:建立相应多环芳烃浓度矩阵C;步骤3:扫描制备土壤样品的荧光谱和近红外漫反射光谱;步骤4:选定定量荧光谱带M;步骤5:选定近红外漫反射光谱带N;步骤6:得到相应荧光强度矩阵F;步骤7:得到相应近红外漫反射强度矩阵S;步骤8:得到每个土壤样品的校正荧光强度矩阵Fc;步骤9:建立校正工作曲线。

主权项:1.一种减小土壤类型对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1:选取多个不同类型的土壤样本,并针对土壤样本制备多个不同浓度多环芳烃的土壤样品;步骤2:根据步骤1中不同浓度多环芳烃的土壤样品,建立相应多环芳烃浓度矩阵C;步骤3:扫描步骤1中制备的每个土壤样品的荧光谱和近红外漫反射光谱,得到每个土壤样品的荧光谱和近红外漫反射光谱;步骤4:对于步骤3中的荧光谱,选定用于建立多环芳烃工作曲线的定量荧光谱带M;步骤5:对于步骤3中的近红外漫反射光谱,选定用于校正工作曲线的近红外漫反射光谱带N;步骤6:提取步骤4中定量荧光谱带M处的荧光强度,得到相应荧光强度矩阵F;步骤7:提取步骤5中近红外漫反射谱带N的强度,得到相应近红外漫反射强度矩阵S;步骤8:通过步骤7中所提取的近红外漫反射强度矩阵S对步骤6中所提取的荧光强度矩阵F进行校正,即得到每个土壤样品的校正荧光强度矩阵Fc;步骤9:根据步骤8得到的校正荧光强度矩阵Fc和步骤2中建立的多环芳烃浓度矩阵C,建立定量分析土壤中多环芳烃浓度的校正工作曲线。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 天津农学院 一种减小土壤类型对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法

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