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【发明授权】杂散光测试站_伟摩有限责任公司_202080026345.8 

申请/专利权人:伟摩有限责任公司

申请日:2020-03-26

公开(公告)日:2023-03-14

公开(公告)号:CN113661443B

主分类号:G03B43/00

分类号:G03B43/00;H04N17/00

优先权:["20190402 US 16/373,437"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.03.14#授权;2021.12.03#实质审查的生效;2021.11.16#公开

摘要:用于杂散光测试站的方法、系统及装置。在一个方面,所述杂散光测试站包含:照明组合件,包含:空间延伸光源;及一个或多个光学元件,被布置为将来自所述空间延伸光源的光束沿光学路径引导至光学接收器组合件,所述光学接收器组合件包含透镜容器,所述透镜容器被配置为接纳透镜模块并将所述透镜模块定位于抛物面镜下游的所述光学路径中,使得所述透镜模块将来自所述空间延伸光源的光束聚焦至图像平面;及可移动框架,其支撑所述光学接收器组合件,所述可移动框架包含一个或多个可调整对准载台以相对于所述照明组合件定位所述光学接收器组合件,使得所述照明组合件的光学路径在所述光学接收器组合件的视场内。

主权项:1.一种杂散光测试装置,包括:照明组合件,包括空间延伸光源以及一个或多个光学元件,所述一个或多个光学元件被布置为将来自所述空间延伸光源的光束沿光学路径引导,所述照明组合件包括被布置在所述光学路径中的抛物面镜,其中,所述抛物面镜处的光束的直径大于所述抛物面镜的横向尺寸,以及其中,所述一个或多个光学元件进一步包含一个或多个中性密度滤光器;光学接收器组合件,包括透镜容器,所述透镜容器被配置为接纳透镜模块并将所述透镜模块定位于所述抛物面镜下游的所述光学路径中,使得所述透镜模块将来自所述空间延伸光源的光束聚焦至传感器的图像平面;以及可移动框架,支撑所述光学接收器组合件,所述可移动框架包括一个或多个可调整对准载台,其中,所述可调整对准载台相对于所述照明组合件定位所述光学接收器组合件,使得所述照明组合件的所述光学路径在所述光学接收器组合件的视场内。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 伟摩有限责任公司 杂散光测试站

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