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【发明授权】一种定量二维砂箱中DNAPL源区质量的方法_中国地质大学(北京)_202210615392.7 

申请/专利权人:中国地质大学(北京)

申请日:2022-05-31

公开(公告)日:2023-04-07

公开(公告)号:CN114862835B

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/194

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.04.07#授权;2022.08.23#实质审查的生效;2022.08.05#公开

摘要:本发明公开了一种定量二维砂箱中DNAPL源区质量的方法,首先获取填充介质的二维砂箱正面的图像作为背景图像,然后向二维砂箱内注入染色的DNAPL,在注入过程中拍照得到多个DNAPL源区图像;将背景图像及DNAPL源区图像转化二值化图像并标准化处理;根据背景图像的和DNAPL源区图像的灰度值来建立图像参数,获取图像参数与DNAPL源区质量之间的定量关系,根据定量关系及新获取的DNAPL源区图像的灰度值,得到新获取的DNAPL源区的质量。本发明在采用二维砂箱对DNAPL的迁移转化规律进行研究的过程中,将光透法以及图像分析处理技术进行有效结合,可以对二维砂箱中的DNAPL源区质量进行快速的定量分析。

主权项:1.一种定量二维砂箱中DNAPL源区质量的方法,其特征在于,包括:S1:采用实验介质填充二维砂箱,并获取二维砂箱正面的图像作为背景图像;S2:向所述二维砂箱内注入染色后的DNAPL,在注入过程中以预设频率进行拍照记录,得到多个DNAPL源区图像;S3:将所述背景图像及DNAPL源区图像转化二值化图像,并进行标准化处理;S4:根据背景图像的灰度值和DNAPL源区图像的灰度值来建立图像参数,并获取图像参数与DNAPL源区质量之间的定量关系,包括:S41:随机截取背景图像中多个不同位置的像素灰度值,并求其平均灰度值作为图像背景灰度值;S42:将图像背景灰度值减去DNAPL源区图像中各像素点的灰度值得到目标值;S43:各像素点的目标值除以图像最大目标值,得到各像素点相对目标值;S44:将所述各像素点相对目标值的总和作为图像参数,建立图像参数与DNAPL输入质量之间的定量关系图,通过定量关系图来获取图像参数与DNAPL输入质量之间的定量关系;S5:根据所述定量关系及新获取的DNAPL源区图像的灰度值,来得到新获取的DNAPL源区的质量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国地质大学(北京) 一种定量二维砂箱中DNAPL源区质量的方法

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