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【发明公布】一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统_上海顺诠科技有限公司;英业达股份有限公司_202310558326.5 

申请/专利权人:上海顺诠科技有限公司;英业达股份有限公司

申请日:2023-05-17

公开(公告)日:2023-08-01

公开(公告)号:CN116524990A

主分类号:G11C29/56

分类号:G11C29/56

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.08.18#实质审查的生效;2023.08.01#公开

摘要:本发明实施例公开一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统,用于验证动态随机存取存储器模块所包含电可擦除可编程只读存储器中之信息写入与读取的功能,检测系统包含至少一个存储器模块插槽、以及处理单元,存储器模块插槽用以插入动态随机存取存储器模块,而动态随机存取存储器模块上具有电可擦除可编程只读存储器,当操作系统控制处理单元后,处理单元中的I2C操作寄存器可以通过I2C总线访问动态随机存取存储器模块,并且可以于电可擦除可编程只读存储器中进行写入与读取测试资料,其中测试资料不具备样本资料时,可用串行存在检测信息取代。

主权项:1.一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统,其特征在于,用于验证所述动态随机存取存储器模块所包含一电可擦除可编程只读存储器中之一信息写读功能,所述检测系统包含:至少一存储器模块插槽,所述存储器模块插槽用以插入所述动态随机存取存储器模块,所述动态随机存取存储器模块上具有所述电可擦除可编程只读存储器;一处理单元,所述处理单元包含一I2C操作寄存器,所述I2C操作寄存器通过一I2C总线电性耦接所述存储器模块插槽;其中,所述处理单元中的I2C操作寄存器通过所述I2C总线访问所述动态随机存取存储器模块,并写入与读取一测试资料于所述电可擦除可编程只读存储器。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海顺诠科技有限公司;英业达股份有限公司 一种AMD系统之动态随机存取存储器模块的检测系统

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