申请/专利权人：华中科技大学

申请日：2023-04-13

公开（公告）日：2023-09-29

公开（公告）号：CN116820846A

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G06F11/07

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.10.24#实质审查的生效;2023.09.29#公开

摘要：本发明公开了一种优化SMART信息位的固态硬盘分层测试方法、装置及介质，涉及数据存储的技术领域，所述方法包括在业务层检测测试中所述固态硬盘的运行情况，收集事件信息，记录测试中测试系统的蓝屏信息；在驱动层提取测试中测试系统的性能信息，结合性能信息、所述事件信息和所述蓝屏信息解码故障；对测试前后的固态硬盘的SMART信息进行对比，结合解码出的故障，生成故障诊断报告。故障诊断报告记载固态硬盘故障时，三个层级的故障体现，使得固态硬盘测试不再只停留在硬盘本身，而拓展为对业务层、驱动层和设备层整个系统的测试，使得测试方面和角度更全面。同时，可以通过对比设备层SMART信息与其他层级的报错信息，发现SMART信息的不足。

主权项：1.一种优化SMART信息位的固态硬盘分层测试方法，其特征在于，所述固态硬盘分层测试方法包括：记录测试前固态硬盘的SMART信息；在业务层检测测试中所述固态硬盘的运行情况，收集事件信息，记录测试中测试系统的蓝屏信息；在驱动层提取测试中测试系统的性能信息，结合性能信息、所述事件信息和所述蓝屏信息解码故障；调取测试后所述固态硬盘的SMART信息，与测试前所述固态硬盘的SMART信息进行对比，结合解码出的故障，生成故障诊断报告。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华中科技大学 一种优化SMART信息位的固态硬盘分层测试方法、装置及介质

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