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【发明公布】一种漏洞PoC驱动的双回路模糊测试方法及系统_中国科学院计算技术研究所_202310827042.1 

申请/专利权人:中国科学院计算技术研究所

申请日:2023-07-06

公开(公告)日:2023-11-03

公开(公告)号:CN116992452A

主分类号:G06F21/57

分类号:G06F21/57

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.11.21#实质审查的生效;2023.11.03#公开

摘要:本发明提出一种漏洞PoC驱动的双回路模糊测试方法,包括:外回路步骤,根据漏洞PoC的执行状态提取漏洞的特征向量,构建特征向量库;内回路步骤,从种子库中选取种子;将该种子变异产生多个测试用例,以这些测试用例对目标程序进行模糊测试,监测并报告该目标程序出现的崩溃或新程序状态,并将能触发目标程序新程序状态的测试用例加入该种子库。本发明还提出一种漏洞PoC驱动的双回路模糊测试系统,以及一种用于实现漏洞PoC驱动的双回路模糊测试的数据处理装置。

主权项:1.一种漏洞PoC驱动的双回路模糊测试方法,其特征在于,包括:外回路步骤,根据漏洞PoC的执行状态提取漏洞的特征向量,构建特征向量库;内回路步骤,基于该特征向量库从种子库中选取种子;使用该种子变异产生的多个测试用例对目标程序进行模糊测试,监测并报告该目标程序出现的崩溃或新程序状态,选取触发该新程序状态的测试用例加入该种子库。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院计算技术研究所 一种漏洞PoC驱动的双回路模糊测试方法及系统

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