申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请日：2021-11-30

公开（公告）日：2023-12-19

公开（公告）号：CN114143482B

主分类号：H04N25/57

分类号：H04N25/57;H04N25/63;H04N25/76

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.12.19#授权;2022.03.22#实质审查的生效;2022.03.04#公开

摘要：TDICMOS探测器的暗信号扣除方法，涉及TDICMOS成像技术领域，解决现有暗信号扣除方法，存在导致输出图像的灰度值出现截断，无法显示出细微灰度变化的细节或降低可用的动态范围等问题，在每次摄像前，通过温度传感器的值，更改探测器的ADC偏置值；在摄像中，通过校正系数来进行扣除；首先在预期的工作温度条件下，通过设置探测器的ADC初始值，将输出的DN值的平均值设置为目标值；然后在不同的探测器温度下，测量DN值的变化；根据所使用的行周期长度和积分级数，可以换算出温度变化和总积分时间与DN值变化的映射关系。最终在应用时，根据温度传感器输出的温度值和使用的行周期长度及积分级数，判断输出的DN值变化超过1，才进行输出图像灰度值的整体调整。

主权项：1.TDICMOS探测器的暗信号扣除方法，其特征是：该方法由以下步骤实现：步骤一、对探测器的暗信号进行标定，具体标定过程为：步骤一一、将探测器放入挡光的高低温箱中，在典型的积分级数和增益设置下，测量获得的图像DN值与温度的映射关系；步骤一二、设置探测器的ADC初始值y1，保证探测器所有像素输出的DN值都高于0；步骤二、根据步骤一标定后的暗信号扣除；具体扣除过程为：步骤二一、在预期的工作温度条件下，设置探测器的ADC初始值y2，将输出的DN值的平均值设置为目标值；步骤二二、在探测器的不同温度下，测量DN值的变化；根据所使用的探测器的行周期长度和积分级数，标定出探测器的温度变化和总积分时间与探测器输出的DN值变化的映射关系；步骤二三、在应用时，根据温度传感器输出的温度值和探测器使用的行周期长度及积分级数，判断当输出的DN值变化是否超过1，如果是，进行输出图像灰度值的调整，进行暗信号的扣除；步骤一一中，获得的图像DN值与温度的映射关系，具体过程为：将温度传感器每间隔1s输出的温度值和探测器输出的DN值进行存储，后进行事后判断；以秒为单位，进行图像DN平均值的统计，获取在典型积分级数和增益下的温度系数，进行全工作温度范围内拟合；获得温度i时的拟合系数为： 式中，KTDI_typic为典型的积分级数，KPGA_typic为典型的增益，tint_typic为典型的行周期长度，DNi+m为典型参数下温度为i+m时的DN值，DNi为典型参数下温度为i时的DN值；所述典型参数下温度为i时的DN值DNi用下式表示为：DNi＝KTDI×KPGA×Iinput+Idarki×tint-DADC-Djiaozhengi式中，KTDI为当前使用的积分级数，KPGA为当前使用的模拟增益，Iinput为输入的光能量，DADC为在摄像前设置的探测器的ADC初始值；DADC＝Idark_shot_ahead×KTDI×KPGA×tint式中，Idark_shot_ahead为摄像前的暗电流系数，Djiaozhengi为摄像过程中根据实测的温度值和当前使用的模拟增益及当前使用的积分级数进行暗电流扣除的校正值；Djiaozhengi＝Idarki×KTDI×KPGA×tint-DADC式中，tint为积分时间。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 TDICMOS探测器的暗信号扣除方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD