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【发明公布】与辣椒果面蜡质缺失相关的SNP位点、CAPS分子标记及应用_湖北省农业科学院经济作物研究所_202311248506.X 

申请/专利权人:湖北省农业科学院经济作物研究所

申请日:2023-09-26

公开(公告)日:2024-01-02

公开(公告)号:CN117327828A

主分类号:C12Q1/6895

分类号:C12Q1/6895;C12N15/11

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.01.19#实质审查的生效;2024.01.02#公开

摘要:本发明涉及辣椒分子标记领域,公开了与辣椒果面蜡质缺失相关的SNP位点、CAPS分子标记及应用。申请人通过对辣椒果面蜡质缺失材料‘LXQ‑93‑5‑无1’和果面蜡质正常材料‘白辣椒‑M’构建F2分离群体,利用混池RNA测序(BSR‑seq)结合连锁作图的方法,确定了控制辣椒果面蜡质层缺失与否的基因及其关键变异位点,并根据变异位点设计基因标记。采用该标记进行鉴定不需要在辣椒坐果期,苗期即可准确检测辣椒果面蜡质层是否缺失,检测成本低、效率高。并且本发明的分子标记是位于基因内部,准确性高,显著提高育种效率并降低育种成本。

主权项:1.检测与辣椒果面蜡质缺失相关的SNP位点的试剂在辣椒蜡质层有无性状育种中的应用,所述的SNP位点位于辣椒P12染色体的第221,019,529位,所述的辣椒,参考辣椒Zhangshugang参考基因组,Ver2023-03-14,http:ted.bti.cornell.eduftppeppergenomeZhangshugang。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 湖北省农业科学院经济作物研究所 与辣椒果面蜡质缺失相关的SNP位点、CAPS分子标记及应用

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