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【发明公布】三维空间架体的测点位移检测方法及系统_广州宏途设备工程有限公司_202311297759.6 

申请/专利权人:广州宏途设备工程有限公司

申请日:2023-10-08

公开(公告)日:2024-01-05

公开(公告)号:CN117346713A

主分类号:G01B21/02

分类号:G01B21/02;G01B11/02;G01B11/16;G01B21/32;G06F17/10

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.01.23#实质审查的生效;2024.01.05#公开

摘要:本发明涉及施工用具检测技术领域,具体涉及一种三维空间架体的测点位移检测方法及系统,包括:S1:针对待测架体上的待测点,于水平面上沿横轴和纵轴方向分别设置第一位移计和第二位移计;S2:对所述待测点测量第一平面投影初始位置、第二平面投影初始位置和初始高度;S3:对所述待测架体上添加荷载,随对所述待测点测量第一平面投影位移位置、第二平面投影位移位置和位移高度;S4:生成所述待测点的三维空间位移。有益效果在于:通过检测待测点在两个平面和竖直方向上的位移投影,进而准确求解出待测点在三维空间中的实际位移情况,便于评估三维空间架体在不同荷载状况下的空间位移、形变是否满足安全需求。

主权项:1.一种三维空间架体的测点位移检测方法,其特征在于,包括:步骤S1:针对待测架体上的待测点,于水平面上沿横轴和纵轴方向分别设置第一位移计和第二位移计;步骤S2:分别采用所述第一位移计对所述待测点测量第一平面投影初始位置,以及,采用所述第二位移计对所述待测点测量第二平面投影初始位置,以及,对所述待测点于竖直方向上测量初始高度;步骤S3:对所述待测架体上添加荷载,随后采用所述第一位移计对所述待测点测量第一平面投影位移位置,以及,采用所述第二位移计对所述待测点测量第二平面投影位移位置,以及,对所述待测点于竖直方向上测量位移高度;步骤S4:依照所述第一平面投影初始位置、所述第二平面投影初始位置、所述初始高度、所述第一平面投影位移位置、所述第二平面投影位移位置和所述位移高度生成所述待测点的三维空间位移。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 广州宏途设备工程有限公司 三维空间架体的测点位移检测方法及系统

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